微機繼電保護測試儀測試時df/dt值。在此測試單元里頻率總是按所設(shè)置的df/dt變化，因此設(shè)置df/dt時，應保證其值小于裝置所整定的df/dt閉鎖值。
  低電壓閉鎖

  該頁與上文中的“df/dt閉鎖”和“dv/dt閉鎖”相似。下面僅介紹不同點。

  電壓測試范圍

  測試時電壓在此范圍內(nèi)逐點進行試探測試，每輪測試時頻率變化，但電壓固定為某一值。電壓值從始值逐漸增加，至某一值時裝置解除閉鎖正確動作，則該值即為低電壓閉鎖邊界值。

  由于裝置在電壓小于閉鎖值時處于閉鎖狀態(tài)，故一般變化始值應設(shè)置為小于裝置整定的閉鎖值，變化終值應設(shè)置為大于裝置整定的閉鎖值。即試驗從裝置不動作到動作，從而測出裝置的低電壓閉鎖值。